OpTaliX LT 10.50 Thiết kế và tối ưu hóa quang học

Tổng quan về OpTaliX-LT: Phân tích quang học, nhiễu xạ và thiết kế màng mỏng

OpTaliX-LT là phần mềm thiết kế quang học bằng máy tính mạnh mẽ, hỗ trợ toàn diện cho hệ thống quang học, lớp phủ đa lớp màng mỏng và hệ thống chiếu sáng. Với OpTaliX, bạn có thể dễ dàng lên ý tưởng, thiết kế, tối ưu hóa, phân tích, đánh giá dung sai và lập tài liệu cho hầu hết mọi hệ thống quang học phức tạp.

Phần mềm bao gồm các chức năng phân tích hình học và nhiễu xạ, tối ưu hóa hiệu suất, tinh chỉnh các lớp màng mỏng, theo dõi tia không tuần tự, mô phỏng lan truyền quang học vật lý, phân tích phân cực, phân tích ảnh giả, đánh giá dung sai, hỗ trợ sản xuất mở rộng, tạo đồ họa tùy chỉnh, thiết kế hệ thống chiếu sáng, lập trình macro và nhiều tính năng nâng cao khác.

OpTaliX đã được ứng dụng thành công trong việc thiết kế đa dạng các loại thiết bị quang học, bao gồm ống kính máy ảnh và video, quang học công nghiệp (như bộ mở rộng chùm tia, máy quét laser, hệ thống tái tạo ảnh, thị giác máy), quang học vũ trụ, kính ngắm zoom, thiết bị y tế, hệ thống chiếu sáng, viễn thông sợi quang, quang học hồng ngoại, tia X, kính thiên văn, thị kính và nhiều ứng dụng chuyên biệt khác.

Các tính năng nổi bật của OpTaliX-LT

• Hỗ trợ hệ thống zoom và đa cấu hình
• Phân tích và sàng lọc lớp màng mỏng đa lớp
• Các thuật toán tối ưu hóa tiên tiến, xử lý ràng buộc chính xác
• Phân tích phân cực quang học
• Phân tích độ sáng và hiệu suất quang
• Đánh giá dung sai chi tiết cho mọi khía cạnh
• Phân tích hình học và nhiễu xạ toàn diện
• Ngôn ngữ macro mạnh mẽ với biến, vòng lặp, điều kiện, hàm tùy chỉnh và hơn thế nữa
• Phân tích ảnh hưởng của môi trường.